Home For authors Submission status Current Archive (English) Archive    Volumes 61-80    Volumes 41-60    Volumes 21-40    Volumes 1-20    Volumes 81-88       Volume 88       Volume 87       Volume 86       Volume 85       Volume 84       Volume 83       Volume 82       Volume 81 Search

VOLUME 82 | ISSUE 5 | PAGE 326 Наблюдение антифазных доменов в пленках CdxHg1-xTe на кремнии методом фазового контраста в атомно-силовой микроскопии И. В. Сабинина*, А. К. Гутаковский*, Ю. Г. Сидоров*, М. В. Якушев*, В. С. Варавин*, А. В. Латышев*+ *Институт физики полупроводников Сибирского отделения РАН, 630090 Новосибирск, Россия + Новосибирский государственный университет, 630090 Новосибирск, Россия PACS: 68.37.-d, 68.47.Fg, 68.55.-a Abstract Продемонстрирована возможность использования фазового контраста в атомно-силовой микроскопии для получения адекватной информации о плотности и характере распределения антифазных доменов на поверхности пленок CdHgTe, выращенных методом молекулярно-лучевой эпитаксии на поверхности Si(301). Сопоставление фазовых изображений поверхности пленок в атомно-силовом микроскопе с изображениями структурных дефектов в приповерхностной области в просвечивающем электронном микроскопе позволило установить связь между микроструктурой и микроморфологией пленок. Download PS file (GZipped, 3566.1K)  |  Download PDF file (572.8K) Список работ, цитирующих данную статью, см. здесь. List of articles citing this article can be found here.