Home For authors Submission status Current Archive (English) Archive    Volumes 81-88    Volumes 41-60    Volumes 21-40    Volumes 1-20    Volumes 61-80       Volume 80       Volume 79       Volume 78       Volume 77       Volume 76       Volume 75       Volume 74       Volume 73       Volume 72       Volume 71       Volume 70       Volume 69       Volume 68       Volume 67       Volume 66       Volume 65       Volume 64       Volume 63       Volume 62       Volume 61 Search

VOLUME 74 | ISSUE 4 | PAGE 263 Эмиссионная проекционная микроскопия диэлектрических образцов со сверхвысоким пространственным разрешением Б. Н. Миронов, Д. А. Лапшин, С. К. Секацкий, В. С. Летохов Институт спектроскопии РАН, 142190 Троицк Московская обл., Россия PACS: 72.20.-i, 79.70.+q Abstract Экспериментально реализован метод получения эмиссионных проекционных изображений непроводящих острий со сверхвысоким пространственным разрешением. Бессканирующим методом получено изображение острия стеклянного микрокапилляра с пространственным разрешением не хуже 20 нм. Download PS file (GZipped, 122.7K)  |  Download PDF file (166.5K)